b'\n_START_ARTICLE_\nMicroscopio de iones en campo\n_START_PARAGRAPH_\nLa microscop\xc3\xada de iones en campo (FIM) es una t\xc3\xa9cnica anal\xc3\xadtica empleada en ciencia de materiales. El microscopio de iones en campo es una variedad de microscopio que puede ser usado para visualizar la ordenaci\xc3\xb3n de los \xc3\xa1tomos que forman la superficie de la punta afilada de una aguja de metal. Fue la primera t\xc3\xa9cnica con la que se consigui\xc3\xb3 resolver espacialmente \xc3\xa1tomos individuales. La t\xc3\xa9cnica fue desarrollada por Erwin M\xc3\xbcller. En 1951 se publicaron por primera vez im\xc3\xa1genes de estructuras at\xc3\xb3micas de tungsteno en la revista Zeitschrift f\xc3\xbcr Physik._NEWLINE_En la FIM, se produce una aguja de metal afilada y se coloca en una c\xc3\xa1mara de ultra alto vac\xc3\xado, que despu\xc3\xa9s se llena con un gas visualizador tal como el helio o el ne\xc3\xb3n. La aguja se enfr\xc3\xada hasta alcanzar temperaturas criog\xc3\xa9nicas (20-100 K). Luego se aplica un voltaje positivo que va de 5.000 a 10.000 voltios sobre la punta. Los \xc3\xa1tomos de gas absorbidos por la punta se ven ionizados por el fuerte campo el\xc3\xa9ctrico que existe en las proximidades de ella. La curvatura de la superficie cercana a la punta provoca una imanaci\xc3\xb3n natural; los iones son repelidos bruscamente en direcci\xc3\xb3n perpendicular a la superficie (un efecto de "proyecci\xc3\xb3n de punto"). Se coloca un detector de modo que pueda recoger esos iones repelidos; y la imagen formada por todos los iones repelidos puede tener la resoluci\xc3\xb3n suficiente como para mostrar \xc3\xa1tomos individuales en la superficie de la punta._NEWLINE_Al contrario que los microscopios convencionales, donde la resoluci\xc3\xb3n espacial se ve limitada por la longitud de onda de las part\xc3\xadculas empleadas en la visualizaci\xc3\xb3n, el microscopio basado en FIM funciona por proyecci\xc3\xb3n y alcanza resoluciones at\xc3\xb3micas, con un aumento aproximado de unos pocos millones.'