Labcontrol Hitachi Coatings
Analisador de espessura de revestimento e materiais Microspot XRF para um rápido controle de qualidade e testes de validação, facilitando a obtenção dos resultados certos em segundos.
A análise da espessura do revestimento e dos materiais com base na fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica amplamente aceita e comprovada pela indústria, oferecendo análises fáceis de usar, rápidas e não destrutivas, exigindo pouca ou nenhuma preparação de amostra, capaz de analisar sólidos ou líquidos em uma ampla faixa de elementos de 13 Al a 92 U na tabela periódica.
Contador proporcional ou SDD de alta resolução
Faixa de elementos: Ti – U ou Al – U (SDD)
Projeto da câmara: com fenda
Opções de estágio XY: base fixa, poço profundo, motorizada
Menor colimador: 0,01 x 0,25 mm (0,5 x 10 mil)
O CMl243® é uma ferramenta essencial para qualquer metal finalizador. Tem um sistema flexível e fácil de usar, design com a sonda ECP-m que usa tecnologia de corrente parasita sensível à fase.
Com o CMI243® usando a sonda ECP-m, é possível medir com precisão os revestimentos metálicos sobre substratos ferrosos -mesmo em superfícies pequenas, de formato estranho ou ásperas.Este medidor é ideal para uso em fixadores e transporte componentes, apresentando controles amigáveis ​​e desempenho que é comparável aos instrumentos de fluorescência de raios-X (XRF).
Para valor agregado, o CMI243® pode ser expandido com um magnético sonda de indução para medir tinta e outros revestimentos em substratos magnéticos.
O CMI511® possui um recurso exclusivo de compensação de temperatura para medição de espessura em processo para reduzir desperdícios e custos retrabalho. Sua correção automática de temperatura o torna altamente preciso mesmo para medições em placas que acabaram de ser levantado do tanque de galvanização.
Tecnologia de microresistência para precisa medição de cobre de superfície
O CMI563® fornece tecnologia avançada para medição no revestimento de cobre e garante que o lado oposto do PCB não irá interferir nas leituras, independentemente do laminado espessura.
Nosso CMI563® torna simples obter superfície precisa medição de cobre em cobre laminado, não eletrolítico ou eletrolítico.
Este medidor é ideal para:
• Fabricação e montagem de PCBs
• Espessura da superfície do cobre
Nosso CMI563® oferece desempenho superior para folha de cobre medição em flexível ou rígida, simples, dupla face ou placas multicamadas.