<s>[INST]Kırılma ve sönme katsayısı indeksini belirlemek için hangi denklemler kullanılır?[/INST]Yarı iletken endüstrisinde, ince filmler ve periyodik hendek yapıları gibi malzemeleri karakterize etmek için kızılötesi ışık kullanılabilir. Işığın yarı iletken bir gofret yüzeyinden yansımasını ölçerek, kırılma endeksi (n) ve sönme Katsayısı (k), Forouhi-Bloomer dispersiyonu denklemleriyle belirlenebilir. Kızılötesi ışığın yansıması, yüksek en / boy hendek yapılarının kritik boyut, derinlik ve yanak açısını belirlemek için de kullanılabilir.</s>