При помощи оптической системы прибора свет от источника, характеристики которого необходимо измерить, и свет от эталонного источника образуют два смежных поля.
prʲˈɪ pˈomʌɕɪ ʌptʲˈitʃʲiskʌj sʲisʲtʲˈemy prʲibˈora svʲˈet ot ɪstˈotʃʲnʲika, xʌrʌktʲirʲˈisʲtʲikʲɪ kʌtˈorʌvʌ nʲiʌpxʌdʲˈimʌ ɪzmʲˈerʲitʲ, ˈi svʲˈet ot ɛtaɭˈonnʌvʌ ɪstˈotʃʲnʲika ʌbrazˈujut dvˈɑ smʲˈeʒnyx pˈoɭʲʌ.