əl mˈɛtʊðə kʊnsistˈɛjɕ ɐ məzʊɾˈa midʑɐnsˈan intərfəɾʊmətɾˈiɐ ðə ɾrˈatɕs ˈiks, ˈamp mˈoltɐ pɾəsizjˈo, əl ʋɐlˈoɾ ðəl kʊstˈat ðə lɐ sˈɛllɐ ʊnitˈat ðəl kɾistˈaʎ ðə silˈisi, lɐ kwˈal kˈozɐ pərmətɾˈa ðətərminˈa lɐ kʊnstˈan dɐβʊɣˈaðɾʊ, , ɐ pɐɾtˈi ðə lɐ fˈormʊlɐ:
El mètode consisteix a mesurar mitjançant interferometria de raigs X, amb molta precisió, el valor del costat  de la cel·la unitat del cristall de silici, la qual cosa permetrà determinar la constant d'Avogadro, , a partir de la fórmula: