Anstelle von Lichtwellen nutzt es Elektronenwellen, mit denen es die Oberflächen von Objekten abtastet.
Raster-Elektronenmikroskop (REM) dient der Darstellung mikromorphologischer Strukturen, die kleiner als 0,001 mm (=1 µm) sind. Anstelle von Lichtwellen nutzt es Elektronenwellen, mit denen es die Oberflächen von Objekten abtastet. Im Vakuum der Probenkammer trifft ein Elektronenstrahl auf die Probe und erzeugt Sekundärelektronen, die von Detektoren registriert und in elektronische Signale umgewandelt werden. Diese Abbilder können auf Monitoren direkt abgebildet und digital untersucht werden.