專利地圖

专利地图（Patent Map）系指透过专利检索技巧，检索出与研究主题相关之专利资料，并以统计分析之方法，加以缜密及精细之剖析整理制成各种可分析、解读、以图表格式呈现之加值化专利资讯。使用者可以如同阅读地图般，用简单与清晰的图表即可获取包含在其内的丰富专利资讯内涵。 而所谓专利地图分析，则是运用专利分析技能，将零散琐碎的专利资讯借由专利地图分析转化成系统性的市场与技术资讯，并对研究主题进行管理面、技术面、权利面或引证资料之分析与规划。如将专利地图分析用于研拟技术发展策略、行销策略、授权策略及掌握对手研发方向，则称之为专利布局。 由于各公司通常会因想尽各种方法保护其智慧财产，因此会在世界各地相关市场国提出专利等申请，而这些获证之资料，皆属公开资讯可以自由取得。因此，上述之专利资讯若加以分析了解相关技术及公司等发展之趋势、专利布署之相关概况，可做为应用在相关技术领域之研发规划、技术引进，申请专利，甚至产品规划等之重要参考资料。

专利地图之类别

专利地图制作与运用视使用者之需求而有所不同。但是基本上，至少包含两大部分，其一为“经营图”，偏向于对专利相关资讯以总申请专利获准件数为主之统计，分析各个国家、公司、发明人，相关技术占有、竞争之情形，同时亦对各个专利被引用之情形、 技术独特之情形、专利期限、技术生命周期等做各个“专利经营面之分析”。这类资讯绘成专利地图后，主要提供一般使用者宏观趋势的了解，使其能够了解特定技术或是特定公司发展的概况，以及在各地市场专利布局的强弱。这初步宏观资讯，可以当成相关公司技术与市场布局的参考。 另一则为所谓之“技术图”，此乃针对各篇专利加以详细解读，将各个专利申请主要技术内容，相关专利技术之内涵与专利所保护范围，加以剖析成技术研发人员更能了解之技术语言及层次之各种技术分析；此有别于经营图时仅对国际专利分类号(IPC，International Patent Classification)或美国专利分类(UPC，United States Patent Classification)之技术分类做技术大类之分析。是以此部分若能做好详尽之分析，使研发者了解该专利技术的密度，即可作为“回避设计” (design around)、技术地雷、技术挖洞或想做新改良发明等之参考资讯，及研发灵感之重要来源。

专利地图之运用

近年来，专利地图已逐渐与技术路径图（Technology Roadmap）整合，以进一步了解技术未来发展。此外专利地图（含商标资讯）也经常与市场资讯（Market Information）搭配，成为监控单一企业研发与产品布局的先前指标。最后，专利地图也可以用于分析国家与国家的产业竞争力，或是一国产业发展的研发实力。总而言之，专利地图变化无穷，端视分析者与使用者的功力与创意。(详细内容可参考国家实验研究院)