La téunica de difracción de rayos X dexa estudiar la estructura del monocristal por aciu la identificación de los planos difractantes según la llei de Bragg, lo cual ye útil pa la determinación de fases. Amás, los métodos cristalográficos dexen estudiar tamién la distribución d'orientaciones cristalográfiques nun material, conocida tamién como testura cristalográfica.