Dans le microscope électronique par réflexion, comme dans le microscope électronique en transmission, un faisceau d'électrons est incident sur une surface mais, au lieu d'utiliser la transmission (MET) ou des électrons secondaires (SEM), c'est le faisceau réfléchi d'électrons, dispersés par élasticité, qui est détecté.
Dans le microscope électronique par réflexion , comme dans le microscope électronique en transmission , un faisceau d' électrons est incident sur une surface mais , au à le lieu d' utiliser la transmission ( MET ) ou des électrons secondaires ( SEM ) , c' est le faisceau réfléchi d' électrons , dispersés par élasticité , qui est détecté .