%ただし,寿命試験の周囲条件は,この限りではない。示すエージングを行った後,定格電圧で点灯したときの消費電力及び全光束を測定する。全光束は,適切な球形光束計又はこれと同等精度の光束計を用いて測定する。電球は,鉛直方向に口金を上方とする位置で点灯させる。5°を超えないものとする。電球は,振動のない状態で点灯させる。動及び衝撃のないことを確認する。ソケットは,次の条件による。a)寿命試験装置上のソケットは強固な構造で,十分な電気的接続が保証され,かつ,過熱を防ぐように設計する。%を超えてはならない。定する値を超えないように設計する。動作温度は,次の条件による。金温度を超えてはならない。b)電球は,極端に周囲温度の高い所及び/又はほかの電球の熱の影響を受ける所で点灯してはならない。%の試験電圧で点灯する。試験電圧及び寿命係数を受渡当事者間で協定した場合,その電圧で点灯してもよい。一般的に,経済的な理由で,定格電圧を超える電圧で試験が実践されている。加速寿命試験を行った場合の定格換算寿命は,次の式によって算出する。異なる値となる場合がある。交流又は直流電源を用いる。時間を超えない間隔で確認し,記録電圧計で記録する。この確認は,毎日行うことが望ましい。分間以内に補正するものが望ましい。インダクタンスの値に関連している。装置及び電圧調整を行う装置は,標準設定としてその回路内にあるのが望ましい。特定値を出すために,小さな抵抗及びインダクタンスを入れる場合には,適切な位置に置くのがよい。この時間は,点灯時間に含めない。%に達したとき,光束維持率を求める。%に達したときに,定格電圧にて光束維持率を測定する。規定する電圧で点灯し,フィラメントが切れるまでの時間を測定する。%に達した時点で終了したとみなす。%に達した時点で終了する。規定するノギス若しくはこれと同等以上の精度の測定器,又はジグを用いて測定する。規定するゲージ又は適切な測定器を用いて測定する。B(規定)寿命の計算及び限度(対応国際規格の規定内容は,我が国での考え方が違うため不採用とした。C(規定)認証のための推奨する予備検査(対応国際規格の規定内容は,我が国での考え方が違うため不採用とした。D(規定)統計的抜取表(対応国際規格の規定内容は,我が国での考え方が違うため不採用とした。E(規定)統計的概念及びこの規格の基礎(対応国際規格の規定内容は,我が国での考え方が違うため不採用とした。以下の場合,製造業者独自の試験では,より高いインダクタンスを用いてもよい。場合,インダクタンスは比例して低くする(検討中)。平均値であり,実際のサージ電圧のばらつきを考慮して選定されている。超えても回路を保護することができる。