Ltd.抄録ガスクロマトグラフィー-マイクロ波誘導プラズマ原子発光分析法(GC-MIP-AES)を脂肪酸(FA),モノアシルグリセリン(MG)及びジアシルグリセリン(DG)トリメチルシリル(TMS)エステル(又はエーテル)誘導体の元素組成分析に適用し評価を行った。ケイ素による負の干渉を酸素発光クロマトグラムにおいて認めた。その干渉の強度及び正の酸素発光強度は,ヘリウムメークアップガス流量の増加と共に反比例的に減少した。(DG-TMS)以内であった。参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。電子リソースリポジトリ。