MyページログアウトクローズアップA.ICMOCESKickstarterお使いのブラウザは最新版ではありません。最新のブラウザでご覧ください。センターとセイコーインスツルメンツ株式会社は7月11日、世界で初めて光ディスク原盤や光ROMディスクを光で検査し、エラーピットをナノメーターレベルの精度で形状測定できる精密ピット計測装置の試作に成功したと発表した。Microscope:AFM)で観察するもの。Tube:CNT)探針を使用しており、形状測定における高精度や高耐久性を実現した。この装置を使えば、今まで不可能でだったエラー信号とピット形状の相関が明らかとなる。簡単に高精度での光ディスク原盤や光ROMディスクの検査ができるようになり、超高密度100GB容量の光ディスク原盤開発や光ROMディスク生産行程への適用が可能としている。現在の光ディスク原盤や光ROMディスクのピットサイズは最小400ナノメートルだが、100GB光ディスク原盤では、ピットサイズは数10ナノメートルとなり、1ナノメートル程度の精度でピットを作製する必要があるという。当サイトは最新ブラウザでの閲覧を推奨します。permission.。