高圧合成法は新物質探索の有力な手段だが,単結晶試料を得ることは非常に難しい。放射光X線を用いることで,圧力下の反応過程をその場観察し,その結果に基づいて遷移金属酸化物の結晶育成を行うことが出来るようになった。図はPrNiO3の研究の様子。高圧合成装置ELEPHANTで単結晶を育成した。それをすりつぶして得た良質の粉末試料を用い,BL02B2の大型デバイシェラーカメラで測定した粉末回折データからマキシマムエントロピー解析で求めた電荷密度分布から,この物質の金属絶縁体転移は,Niイオンの電荷不均化による物であることが分かる。