X線回析顕微法は、X線結晶構造解析法を結晶以外の試料に拡張した、斬新な顕微法である。X線の短い波長と長いプロープ深さのため、他のいかなる顕微法でも困難な、試料内部構造の超高空間能観察を可能とする。実験では、微小試料にコヒーレントX線を照射し、回析強度を位相回復に必要なオーバーサンプリング条件を満たす様に逆空間の細かい間隔で測定する。回析データに反復的位相回復法を適用し、電子密度分布を再生する。図は、SPring-8BL29XULで測定した窒素ガリウム粒子からのスペックル(斑点)状回析パターンと回析顕微法により再生した試料投影像、および計算データを用いたオーバーサンプリング条件の説明を示す。