備及び試験方法を適用する。巻付試験後の老化は,疑義が生じた場合に受け入れられる手順である。1:金属めっき導体又はセパレータを巻いた導体8.1.3.4を参照する。16mm2以下の円形導体8.1.3.4を参照する。扇形導体8.1.3.5を参照する。巻付試験後の老化は,疑義が生じた場合に受け入れられる手順である。16mm2を超える導体8.1.3.5を参照する。関連ケーブル規格を参照する。試験片を準備した後,10%以内で圧縮した外径をもつめっきなし導体を再挿入する。導体は,もとの導体を引張って得られた導体又は要求された外径より細い導体を使用してもよい。よって引張試験を行う。70%の径の導体を管状試験片の中に再挿入してもよい。よって引張試験を行う。用に採取した試料に隣接した位置から採取する。試験片は,両端を支持し,絶縁体は互いに接触しないよう離す。2%以下とし,関連ケーブル規格に規定された温度と時間,オーブンの中に保持する。2:2000)各試験片は,常温でできるだけ緊密にらせん状に巻き付ける。回の均一な速度で行う。