審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意を喚起する。用新案権に関わる確認について,責任はもたない。2143の規格群には,次に示す部編成がある。基に,技術的内容及び構成を変更することなく作成した日本工業規格である。この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。(RTE)を求めるための試験手順及び計算手順について規定する。化処理温度において,少数の固定した劣化処理時間を設定して行い,それぞれの設定した時間間隔の終わりで試験片の特性を測定する。方法では,少数の熱劣化処理温度で,特性値が終点に到達するまで特性試験を規定の時間間隔で行い,熱劣化処理を継続することが,この試験法と異なる。固定時間枠法で用いることができる特性試験は,破壊試験に限られ,非破壊試験及び保証試験には適さない。試験手順に従った試験データから求める。修正を加えたものである。この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。60216-6:2006)とを示す。次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。この規格で用いる主な用語,定義,記号及び略語は,次による。公知の十分な使用実績をもつ温度(°C)の数値。異なる使用状態では異なることがある。“絶対”熱的耐久性指数ということがある。temperature)熱的に劣化処理するために試験片グループを暴露する温度(°C)。temperature)試験片が規定時間の劣化処理によって終点に到達すると推定される温度(°C)。material)推定される熱的耐久性を確定するために評価試験を受ける電気絶縁材料。group)データグループの要素の平均からの偏差の平方和をグループ中のデータ数で除したもの。%の信頼性で与える統計的パラメータ。%だけであるという意味である。界を用いることがある。比較評価試験に参照として用いる電気絶縁材料。coefficient)二つのデータセットの要素間の関係の完全性を表す数。根で除したものに等しい。1(完全な相関)との間である。等しい温度(°C)で,終点に到達する推定時間。sets)]一組の各要素がその他の要素に対応する等しい数の対応する要素からなるデータの二つのセットについて,そのセットの平均からの要素の偏差の積の合計を,自由度で除したもの。freedom)データの数からパラメータの数を引いた数。test)特性測定によって試験片が不可逆的な変化を受け,同一試験片での繰り返し測定をすることができない特性試験。破壊試験の一例としては,絶縁耐力の測定がある。非破壊試験の一例としては,誘電損失(tanδ)の測定がある。line)特性−温度グラフにおいて,規定の特性変化(終点)を示す値で温度軸に平行に引いた直線。interval)温度指数に等しい温度と,半減温度(温度指数に等しい温度で得た終点到達時間の半分の時間に対応する温度)との温度間隔(K)の数値。analysis)二つのデータグループの対応する要素間の関係を示す最適直線を想定し,その直線と一つのグループの個々の要素との偏差平方和が最小になるように,最適直線を導く過程。coefficients)回帰分析から導かれる最適直線の式の係数。推定した終点到達時間と同じになる温度(°C)の数値。等しい温度で推定される終点到達時間と等しいときの,温度(°C)の値である。有意(significance)統計学から導かれる関数値の特定の値より大きい確率。累積分布関数値であるときに,(1−p)に等しい。有意は,慣例的に有意水準(P)より上側の状態として表示される。deviation)データグループ又はサブグループの分散の平方根。groupproperty)グループ特性がその一部をなすと想定される,仮定的な抽出母集団の標準偏差。グループ平均の推定では,標準誤差はグループの標準偏差をグループ中のデータ数の平方根で除したものに等しく,平均の真値の推定での不確かさを示す。値の信頼区間の計算及び二つの平均値の差の検定に用いる。時間(又はその他の規定する時間)における熱的耐久性の関係から導く温度(°C)の数値。specimens)]同じオーブンの中で共に同じ温度に暴露する試験片のグループ。誤解のおそれがない場合,温度グループを,単に“グループ”といってよい。specimens)]破壊試験で,温度グループの中から同じ時間に取り出す試験片のグループ。誤解のおそれがない場合,試験グループを,単に“グループ”といってよい。数(横軸)を用いてプロットしたグラフ。時間までをとることが多い。通常,横軸は非均等な温度目盛(°C)で,温度が左から右に増す方向で目盛るのが都合がよい。specimens)]特性試験のために同じ時間で取り出す試験グループ。group)一つ以上のパラメータによって定義した照合水準からのデータ偏差の平方和を,自由度で除したもの。計算に,次の記号及び略語を用いる。Cpe終点の特性値6.3pgh(時間グループiを含む。)温度グループgの中の特性値h6.3gp(時間グループiを含む。(時間グループiを含む。yの値の中央2次モーメント6.4.2ν(iを含む。固定時間枠法は,熱的耐久性を測定するための熱劣化処理を,少数かつ固定した時間で行うとの考えに基づいている。この試験方法では,それぞれの熱劣化処理時間において,選択した特性の測定値が終点に到達できるように,熱劣化処理温度を十分広い範囲で設定する。達するまで間隔をおいて特性試験を行っていることである。固定時間枠法の手順の目的は,次の利点をもたらすことである。熱的耐久性の測定が,固定し,かつ,あらかじめ定めた時間で完了する。このことによって,測定をより効率的に計画することが可能であるため,しばしば十分な商業的利益がある。設定温度が異なる劣化処理オーブンを多数必要とすることに注意する必要がある。熱的耐久性の回帰に含まれるそれぞれの終点到達温度(すなわち,時間グループの平均)は,時間グループで選択した温度の数による。参照)までの間のいずれでもよい。固定時間枠法の系統誤差の最大の原因は,温度誤差(実際の表示誤差又は温度分布誤差)であることから,系統誤差はかなり低減できる。性を損なうことがある。それぞれの試験手順には,試験片の形状,寸法及び数,並びに暴露時間,温度指数に関連する特性,その測定方法,終点及び試験データから求めた熱的耐久性の導き方を規定する。選んだ特性は,できれば,実使用上意味のある形で電気絶縁材料の機能を反映することが望ましい。均一な状態を得るために,オーブンから取り出した後及び測定の前の試験片の状態調節を規定する必要がある。000時間での耐久性を前提としている。それ以外の長時間又は短時間での熱的耐久性に関する情報が必要なことがある。000時間に対する比で増加させる。規定時間がより短い場合,必要があれば,関係する時間は同じ比で減少させる。規定時間が非常に短い場合,より高い劣化処理温度が必要となり,また,劣化処理温度が,例えば,ガラス転移温度又は部分溶融など,結果に非直線性をもたらすような転移点を含む温度領域になることがあるため,特別な注意が必要である。規定時間が非常に長い場合もまた非直線性をもたらすことがある。劣化処理試験に用いる試験片は,調査する母集団から無作為に抽出したもので構成し,一様に取り扱う。幾つかの材料では,試験片の調製条件が劣化特性に顕著に影響することがあるため,例えば,サンプリング,対象のロールからのシートの切出し,異方性材料の規定の方向での切出し,成形,硬化,予備処理などは,全ての試験片について同じ方法で行う。個別材料規格又は特性試験方法の規格は,試験片の準備に必要な指針を全て含んでいる。2143-2を参照)。規定がない場合は,厚さを報告する。幾つかの物理特性は,試験片の僅かな厚さの違いであっても影響されやすい。このような場合,関連した個別材料規格中に要求がある場合は,それぞれの劣化処理周期の後の厚さを測定し,報告する必要がある。劣化の速度が厚さで変化するため,厚さは重要である。厚さが異なる材料の劣化データは,必ずしも比較できるとは限らない。上の熱的耐久性を評価してもよい。試験片の寸法の許容差は,一般の試験で通常使用されるものと同じとする。寸法の許容差が通常使用のものより小さい試験片が必要な場合は,その特別な許容差を規定する。試験片を測定(厚さ,寸法など)し選別することによって,試験片が均一な品質であること及び試験する材料の代表にふさわしいことを確認できる。精度は,それぞれの温度で劣化処理する試験片の数に大きく依存する。試験片の総数(N)は,次の式によって求める。×=ここに,A:一つの温度で同じ処理を受け,特性評価後に廃棄する試験グループの中の試験片の数(通常5個)B:処理の水準の数。一つの時間での劣化処理温度の総数。C:劣化処理の時間水準の数。D:初期特性値を確定するために用いるグループの試験片の数。判定基準が,特性の初期水準からの変化率(百分率)の場合,通常はD=2Aとする。判定基準が絶対的な特性水準の場合,初期値の報告の要求がなければ,D=0とする。60216-6:2006)追加の試験片を準備しておくこと,又は少なくともそれらの試験片が後で準備できるように,元の材料バッチを保存しておくことが望ましい。これによって,不測の問題が発生した場合,いかなる追加試験片の劣化処理の要求があっても,試験片のグループ間で起きる系統誤差が発生するリスクを最小にできる。片が失われることなどで生じる。特性項目を規定している。このような方法を見つけることができない場合は,国際規格,国家規格,団体規格及び特別に考えられた方法をこの順序で用いることが望ましい。この場合,特性試験の内容を特性項目,測定方法及び終点を含めて,報告書に記載する。終点の選択は,次のいずれかの方法による。b)より相関が乏しい。この値は,実際の使用時の要求に関連して選ぶ。保証試験の終点は,主に特性の固定値の形で規定する。電気絶縁材料が劣化した場合,電気絶縁システムの実稼働中のストレスに耐える能力が低下する。終点は,この能力の程度を示すように選択することが望ましい。求される材料特性について,許容できる安全な値をとることが望ましい。初期特性値を測定する試験片は,劣化処理に用意した試験片から無作為に抽出した部分集合を構成するように選定する。参照)に2日間[(48±6)時間]暴露して,状態調節を行う。注記かなり厚さのある試験片などでは,安定した値を得るために3日間以上の長い時間が必要となることがある。記載の方法),初期値は試験結果の算術平均とする。2143-4規格群で規定する許容差内に維持する。特別な場合に指定してもよい。ほかに規定がない場合,劣化処理は通常の試験室雰囲気で運転するオーブン中で行う。湿度と同じ値に保たれるとき,より信頼性のある結果が得られる。この場合又はその他の特別に規定した環境条件は,報告する。多くの場合における,極端な湿度,化学的な汚染,振動などの特別な環境条件の影響は,絶縁システム試験によって,より適切な評価が行われる。浸せきの周囲条件は重要ではあるが,この規格の範囲外である。ほかに規定がない場合,試験片は測定に先立って状態調節を行い,個別材料規格で指定する状態の下で測定する。概要を例示すように,試験計画を策定する。5.3.2の規定に従って,必要な数の試験片を準備する。試験計画に従って,無作為抽出で試験片を試験グループに分配する。記載の推奨事項(試験片追加の準備)に留意することが望ましい。それぞれの劣化処理時間の後に,該当するそれぞれの劣化処理オーブンから無作為に1グループを選び,取り出す。ほかに規定がない場合,室温まで冷却させる。間を状態調節し,規定の試験手順で試験する。計算を行うことが望ましい。短い暴露時間については必要である。規定によって,結果を評価する。a)規定の終点に到達する熱力学的(絶対)温度の逆数の平均(x)と劣化処理時間の対数(y)との関係は,直線的である。b)直線関係からのxの値の偏差の値は,劣化処理時間によらず,分散は正規分布する。一般の計算手順に用いるデータは,試験データから予備的な計算によって得る。計算データは,z,y,n及びkからなる。計算を通して一貫していれば,対数の底には,いかなる数も用いてもよい。ほとんどのコンピュータ言語及び計算機では,自然対数(底がe)を使用しているので自然対数を用いることが望ましい。特性値−相当する温度変換(特性値から仮想の劣化処理温度を導く計算)判定基準として破壊試験を用いる場合,それぞれの試験片は特性値を得ることによって破壊される。このために,終点到達に必要となる時間及び/又は温度の値は,直接測定できない。終点到達時間を推定するため,終点の近傍で(一つの劣化処理時間について)次の仮定を置く。a)特性値の平均と熱力学的温度の逆数との間の関係は,おおよそ直線的である。b)この直線関係からのそれぞれの特性値の偏差の値は,温度に関係なく一定の分散で正規分布となる。c)個々の試験片に関して,特性値と劣化処理(熱力学的)温度との関係は,a)の関係で示す線に平行な直線である。これらの仮定を適用して,それぞれの劣化処理時間で求めたデータの劣化曲線を描く。処理時間の曲線は,それぞれの試験片グループでの特性の平均値を劣化処理(熱力学的)温度の逆数に対してプロットすることで求める。できることなら,グループ平均の一つ以上が終点レベルの上及び下になるよう,十分に高い温度及び低い温度で,劣化処理を行う。