ソフトウェアトップグラフィックiR補償シミュレーションマクロコマンドDPV測定CP測定CVS測定TAFEL測定IMP測定テクニック一覧操作方法CVS測定CVS(繰返しサイクリックボルタンメトリーストリッピング法)は、電位スキャン時に電極にメッキする金属が析出または剥離が起こり、その量比の変化を調べる方法です。CVSテクニックは回転ディスク電極を用いることにより、電極表面に新鮮なメッキ液を供給し、電極に直接金属をメッキさせ、その剥離量からメッキの状態を調べることができます。上図は硫酸銅溶液をCVSにより測定したボルタモグラムです。メッキ液中の光沢剤、抑制剤を添加することにより、クーロン量は、作用電極に析出した銅の量に比列します。