テスト方法を使用して基板の影響のための訂正なしで示します。これらの青いトレースは大いにより堅いシリコン基板がますます測定に影響を与えるので変位の機能として増加するヤングの係数を示します。ためにそれがこの作業でテストされる薄膜であるのでサンプル最も急速に増加します。ヤングの係数を記号論理学に計算するのに使用される範囲を示します、表面の両方異常および基板の影響から自由なユーザーの判断にあるデータを選ぶためにこれらのダイヤモンドはユーザーによって置かれます。従って計算される値です。ソフトウェアによって、それぞれ、自動的に置かれました。コラムはかなり低いですより。一つの重要な観察は基板の影響のための訂正が用いられるとき、結果は表面の異常により少ない影響があるフィルムにより深いから運ぶことができることです。コラムの値の比較によって見ることができるように、より小さいです。高精度、速度、使い易さおよび浸透深さの連続関数として特性を提供する連続的な剛さの測定オプションのためにこれらの測定のための企業の選択です。探検家のソフトウェアが使用されました。専門家のソフトウェアを持つ顧客に今使用できます。