AM電子機器の小型化になるとして、ナノスケールの現象を理解する必要性は高いと大きくなる。材料は、彼らがより大きなスケールで行うよりも、ナノスケールで異なる特性を示すので、新しい技術は、理解し、これらの新しい現象を利用する必要があります。ポールワイス、ナノシステム科学のUCLAのフレッドカブリ議長が率いる研究チームは、ナノスケールの相互作用を研究するためのツールを開発しました。それらのデバイスは、トンネリングと単一分子と分子が結合する表面間の相互作用を測定することができるマイクロ波周波数のプローブデュアルスキャンです。単一分子と基板との間の電子的相互作用に関するデータを、それらが結合されている連絡先を生成することができます。連絡先はここに重要なだけで、半導体デバイスのように、"UCLAのカリフォルニアナノシステム研究所を指示ワイス氏は、述べてまた化学、生化学&材料科学と工学の名誉教授です。ライス大学からノースウェスタン大学と合成化学者ジェームズツアーから理論化学マークラトナーを含むチームは、、査読ジャーナルナノACSの調査結果を発表した。過去50年間にわたり、エレクトロニクス業界では予測が集積回路内のトランジスタのサイズは2年ごとに約半減することを1965年にゴードンE.ムーアによる、ムーアの法則に遅れないように努めてまいりました。電子機器のサイズに一貫性の減少のパターンは、トランジスタがペースを維持するためにナノスケールで構築される必要がある点に近づいています。研究者がいるためそのような微小サイズでの現象を観察することの難しさがナノスケールでのデバイスを作成するための障害物に遭遇した。コンポーネント間の接続は、ナノスケールエレクトロニクスの重要な要素です。分子デバイスの場合には、分極率は接触の電子は、単一分子のものと相互作用する程度を測定します。分極率の測定の2つの重要な側面は、サブナノメートル分解能で表面上で測定し、理解すると、両方のオンとオフの状態での分子スイッチを制御する機能を実行する能力です。単一分子の分極率を測定するために研究チームは、同時走査型トンネル顕微鏡(STM)の測定とマイクロ波の差周波数(MDF)の測定が可能なプローブを開発した。プローブのMDFの機能を使用すると、チームはスイッチがオフ状態、以前の技術に欠けている重要な能力にあった場合でも、基板上に単一分子スイッチを見つけることができた。チームはスイッチの位置と、彼らはオンまたはオフに状態を変更すると、単一分子スイッチと基板との間の各状態における相互作用を測定するためにSTMを使用することができます。チームのプローブによって提供される新しい情報には、電子機器の限界がなるのではなく、生産のためのデバイスをターゲットとなるかに焦点を当てています。それは、研究者は複雑な生体分子とのアセンブリに分子下構造を識別できる可能性があります。