今日マスクの製造業のための開いたデータ形式の採用の重要なマイルストーンを発表しました。Aera2TMによって進められたマスクの検査システムで行われました。技術ノードの下で製造の半導体デバイスに重要である複雑な、ハイファイのフォトマスクの作成のタスクを非常に簡素化します。チップ水平な物理およびマスクのレイアウトデータを表し、表現するのに使用されるオープンスタンダードの交換のフォーマットです。今日のほぼテラバイトのファイルサイズの主な利点の間でファイル・トランスファーネックを除去するマスクのデータファイルのサイズを減らします。開いたインターフェイス、それは同じデータファイルがパターン生成、度量衡学および点検に可能にするように、複雑なフォーマットの変換のステップの除去によるマスクの製造工程の流れを簡素化している使用することを。デニス、上席副社長および応用ケイ素システムグループの総務部長を言いました。フォーマットを組み込むことによって、私達は競争、最も高いスループット、私達の最先端の顧客のためのダイスにデータベースの点検解決を提供し続けてもいいです」。Sawicki、副大統領そして顧問の図形のデザインにケイ素の部分のための総務部長を言いました。私達の技術を組み込むことは私達の製品の努力の論理展開でした。MDPverifyTM、およびすべて使用できる今日」。日保持されるために展示します。広い電子工学およびエネルギー効率が良いガラスです。