Portal Mackenzie: Princípios de Metrologia Industrial
1º de 2012
Princípios de Metrologia Industrial
161.1602.1
A disciplina Princípios de Metrologia Industrial tem como objetivo analisar os conceitos metrológicos básicos, sua normalização e impacto nos sistemas de gestão da qualidade, para a avaliação de produtos e controle de processos, com o reconhecimento e aplicação de técnicas e metodologias modernas para o gerenciamento dos disposItivos de medição e monitoramento.
A metrologia como requisito dos sistemas de gestão da qualidade. Definições e conceitos metrológicos fundamentais. Calibração de dispositivos de medição e monitoramento. Tipos de erros de medição. Propagação de erros de medição. Incerteza de medições. Conceitos básicos de metrologia dimensional, metrologia de massa e pressão, metrologia de temperatura, metrologia de força, metrologia de tempo e freqüência, metrologia elétrica. Estudos de repetibilidade e reprodutibilidade (R&R). Comparações interlaboratoriais.
Aulas teóricas expositivas, complementadas com exercícios baseados em dados de situações práticas. Utilização de laboratórios para a aplicação de técnicas de medição e calibração de dispositivos de medição e monitoramento.
Serão realizadas duas provas intermediárias (P1 e P2), além da prova de avaliação final escrita (PAFE). Os trabalhos práticos serão divididos em dois grupos (T1 e T2). Considerando os pesos de cada parcela da nota, a média final (MF) será dada pela expressão:
MF= [(2P1/3 + T1/3)*2,5 + (2P2/3 + T2/3)*3,0 + PAFE*4,5]/10
Sendo que o aluno será aprovado com nota maior ou igual 5,5 com freqüência mínima de 80% e com média maior ou igual a 7,0 com freqüência mínima de 75%.
1 - Introdução. Aplicações da metrologia. Conceitos gerais. Definições. Sistema Internacional de Unidades.
2 - Nocões gerais de variação, exatidão e precisão de medidas.
3 - A importância da metrologia nos sistemas de gestão da qualidade.
4 - A RBC e RBLE - Critérios de credenciamento de laboratórios.
5 - Calibração de dispositivos de medição e monitoramento.
6 - Padrões e rastreabilidade metrológica. Validação de dispositivos.
7 - Análise dos requisitos da norma ISO IEC 17025.
8 - Metrologia dimensional.
9 - Metrologia de massa e pressão.
10 - Metrologia de temperatura.
11 - Metrologia de força.
12 - Metrologia de tempo e freqüência.
13- Estudos de repetibilidade e reprodutibilidade (R&R).
14- Comparações interlaboratoriais.
1. ALBERTAZZI, Armando; SOUSA, André Roberto. Fundamentos de metrología cintífica e industrial. São Paulo: Monole, 2010, 408 p.
2. LIRA, Francisco Adval de. Metrologia na Indústria. 4ª ed. São Paulo: Érica, 2005, p. 246.
3. NBR ISO/IEC 17025 - Requisitos gerais para competência de laboratórios de ensaios e calibração. Rio de Janeiro: ABNT - Associação Brasileira de Normas Técnicas, 2005.
1. GONZÁLES, Carlos G. Metrologia. 2ª ed. México: McGraw-Hill, 2005, 446 p.
2. SCHMIDT, Walfredo. Metrologia Aplicada. 1ª ed. São Paulo: Epse, 2003, p. 174.
3. WAENY, José Carlos de Castro. Controle total da qualidade em metrologia. São Paulo: Makron Books, 1992, 152 p.