Pesquisadores do Centro Universitário da FEI realizaram o primeiro teste de tolerância a efeitos da radiação ionizante devido a SEE - Single Event Effect, provocada por feixe de íons pesados, em dispositivos eletrônicos. Realizado em parceria com a IFUSP - Instituto de Física da Universidade de São Paulo, o estudo envolveu a utilização de um acelerador de partículas, o Pelletron (Acelerador de Partículas Eletrostático de 8 MV), um sistema eletrônico de aquisição de dados e um transistor de uso comercial. Também faz parte da iniciativa o CTI - Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer.