AFM5100N | dpUNION
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Diferenciais do AFM5100N
Equipamento de bancada, multifuncional e com grande facilidade de operação.
Através da tecnologia Self-Sensing, o equipamento é capaz de ajustar automaticamente o sistema do probe, não sendo necessária a intervenção do usuário para o ajuste do laser.
Com o modo SIS (Sampling Intelligent Scan), o probe somente se aproxima da amostra no momento da medida, e sua velocidade é controlada automaticamente pelo equipamento. O resultado é a grande diminuição das interferências causadas pelo scan como o arrasto e a deformação da amostra e do probe, gerando uma imagem de melhor qualidade e definição.
Não apenas é possível verificar a topografia da amostra, mas através da combinação de outros modos, é possível determinar também a rugosidade da amostra, adesão, presença de outros elementos/materiais, espalhamento de resistência elétrica, domínio magnético, entre muitos outros.