Nome da Disciplina: MÉTODOS ESPECTROMÉTRICOS II
Introdução à Espectrometria Atômica. Espectrometria Atômica: fenômenos de absorção, emissão e fluorescência. Espectrometria de absorção atômica com chama, com atomização eletrotérmica, com geração de vapor frio e geração de hidretos. Espectrometria de absorção atômica com fonte contínua. Espectrometria de emissão óptica com fonte de plasma indutivamente acoplado (ICP OES) e Espectrometria de massa com plasma indutivamente acoplado (ICP-MS) Programa analítico Introdução à Espectrometria atômica. Transições eletrônicas em átomos. Largura das linhas atômicas. Alargamento natural, alargamento por efeito Doppler, alargamento colisional. Espectrometria de absorção atômica com chama. Histórico. Fundamentos da espectrometria de absorção atômica. Instrumentação: fontes de radiação, sistema de injeção-nebulização, características da chama, produção do vapor atômico, detectores. Correção de fundo usando lâmpada de deutério. Interferências. Tipos de interferências. Métodos quantitativos. Espectrometria de absorção atômica com atomização eletrotérmica. Histórico. Atomização em forno de grafite e em superfícies metálicas. O forno de grafite. Plataforma de L'Vov. Programa de temperatura. Curvas de atomização e pirólise. Correção de fundo explorando o efeito Zeeman. O conceito STPF. Modificadores químicos. Vantagens e desvantagens do uso de modificadores químicos. Tipos de modificadores. Modificadores permanentes. Interferências em fase vapor e em fase condensada. Espectrometria de absorção atômica com fonte contínua. Fundamentos. Instrumentação. Espectrometria de emissão ótica com fonte de plasma indutivamente acoplado (ICP OES). Princípio da técnica. Instrumentação. Formação e estabilização do plasma. Sistemas de injeção-nebulização da amostra. Nebulizador ultrasônico. Câmaras de spray. Instrumentos seqüenciais e simultâneos. Interferências. Métodos quantitativos em ICP OES: padronização interna. Espectrometria de massas com fonte de plasma indutivamente acoplado (ICP-MS). Princípio e fundamentos da técnica. Instrumentação: analisadores de massa e detectores. Interferências.
1) Skoog, D. A. and Leary, J. J. Principles of Instrumental Analysis. Saunders College Publishing. Orlando. Florida. 1992. 2) Welz, B.; Sperling, M. Atomic Absorption Spectrometry – 3rd Ed., Springer-Verlag, Germany, 1999. 3) Butcher, D.; Sneddon, J. A Practical Guide to Graphite Furnace Atomic Absorption, 1st ed., Wiley, USA, 1998. 4) Ingle, J. D.; Crouch S. R. Spectrochemical Analysis, Prentice Hall, USA, 1998. 5) Montaser, D.W.; Golightly, D.W. Inductively Coupled Plasmas in Analytical Atomic Emission Spectrometry, 2nd Ed., VCH Publishers, UK, 1992. 6) Barnes, R.M. Applications of Inductively Coupled Plasma to Emission Spectroscopy. The Franklin Institute Press, 1978. 7) Welz, B.; Becker-Ross, H.; Florek, S.; Heitmann, U. High Resolution Continuum Source AAS – A Better Way to do Atomic Absorption Spectrometry, Wiley-VCH, Weinheim, 2005. 8) Publicações em periódicos científicos de circulação internacional.