Os módulos do Laboratório Associado SisNANO-UFV dispõem das seguintes técnicas e equipamentos.
O microscópio de varredura por sonda utiliza as forças de interação entre uma ponta e a superfície para gerar uma imagem tridimensional da superfície. O tipo de interação define o modo de operação: STM (tunelamento, AFM (força), MFM (magnética), SKM (elétrica), etc. A resolução lateral da imagem, assim como a resolução vertical pode ser da ordem de angstrons.
Alta resolução lateral e vertical;
Requer pouca preparação das amostras em muitas situações;
Pode ser usada em materiais condutores e isolantes.
Perfilometria de superfícies;
Medições de rugosidade superficial;
Análise microestrutural de materiais metálicos, cerâmicos, semicondutores e poliméricos;
Determinação de propriedades mecânicas (rigidez, adesão, atrito) e de forças (elétrica, magnética, etc) em escala nanométrica;
Imageamento biológico de alta resolução;
Microscópio de Varredura por Sonda NT-MDT Integra Prima
Modos de medida: AFM, STM, MFM, etc .
Prof. Maximiliano Luis Munford
E-mail: munford@ufv.br
Tel.: 31 3899-2985
Microscópio de Força Atômica Agilent ILM 6000 (acoplado a microscópio de fluorescência Zeiss Axostar Plus).
A microscopia eletrônica de varredura usa um feixe focalizado de elétrons para varrer pequenas áreas de amostras sólidas. Os elétrons secundários emitidos pela amostra são coletados para gerar um mapa das emissões secundárias. Como a intensidade dessas emissões secundárias é muito dependente da morfologia local, o mapa é uma imagem ampliada da amostra. A resolução espacial típica dos microscópios MEV é de 4 nm, podendo alcançar 1nm em alguns MEVs. Os aumentos podem exceder 500.000 vezes. Alguns MEVs podem utilizar os elétrons retro-espalhados e raios-x característicos gerados pelo feixe de varredura para fazer a análise da composição local da amostra.
Aumento de até 30.000x.
Imageamento de superfícies.
Microscópio Eletrônico de Varredura Leo 1430VP (acoplado a Sonda de raios-X (EDS) IXRF Iridium Ultra).
Núcleo de microscopia da UFV (http://www.nmm.ufv.br)
E-mail: nmm@ufv.br
Tel.: 31 3899-3144
Microscópio Eletrônico JEOL JSM-6010LA.
Prof. Renê Chagas da Silva
E-mail: rene.silva@ufv.br
Tel.: 31 3899-3538
A microscopia confocal permite sondar estruturas subcelulares ou moléculas em células fixadas ou vivas ou amostras de tecidos empregando corantes fluorescentes. Com a microscopia confocal é possível criar imagens tridimensionais de estruturas microscópicas e acompanhar processos, como reações intracelulares, por longos períodos de tempo. O limite de resolução de um microscópio confocal é de 0,1 a 0,2 µm e sua alta sensibilidade permite captar a fluorescência de uma única molécula.