LCT - Infraestrutura / Microscopia eletrônica MEV
Microscopia eletrônica de varredura e microanálise química
A microscopia eletrônica de varredura (MEV) é uma importante técnica analítica, em escala milimétrica a nanométrica, empregada na caracterização de materiais de diversos campos do conhecimento como a engenharia e ciências dos materiais, engenharias metalúrgica e de minas, geociências, ciências biológicas, dentre outros.
Composição, superfície topográfica, morfologia e associações de fases são parâmetros obtidos em estudos ao MEV a partir da resposta da interação de um fino feixe de elétrons com a área e o microvolume analisado.
O LCT conta com dois microscópios eletrônicos de varredura: Stereoscan S440, marca LEO, e Quanta 650FEG, marca FEI, ambos com sistemas de microanálise química acoplado.
Análises por MEV são usualmente acompanhadas pelos interessados devendo ser previamente agendadas. Para maiores detalhes consultar "Plano de Gestão e de Compartilhamento de Uso de Equipamentos".
Alguns exemplos de aplicações e respectivas imagens são apresentados a seguir:
Microscópio eletrônico de varredura ambiental (ESEM) Quanta 650 FEG
Marca FEI, com sistemas de microanálise Quantax, marca Bruker, e de análises de imagens: MLA- Mineral Liberation Analyser
Modo de operação: alto vácuo, baixo vácuo e ambiental (ESEM)
Fonte por emissão de campo (Field Emission Gun)
Detectores: SE, BSE de corrente de amostra
Sistema de microanálise por EDS Quantax, marca Bruker, possibilitando a realização de análises qualitativas e quantitativas, aquisição de imagens, análise multiponto e de feições, varredura por linhas e mapeamento de raios X e controle externo do microscópio eletrônico de varredura. Detector XFlash 4030 com tecnologia SDD (silicon drift detector) com janela de 30 mm2 e resoluções de < 130 eV (Mn kα) a 60 kcps, 138 eV a 130 kcps e 158 eV a 280 kcps
Estágio motorizado X-Y-Z-inclinação e rotação com movimentação X-Y de 150 mm
Estágio Peltier para análises em modo ambiental e em baixa temperatura (até -20º C)
Óptica eletrônica com operação no intervalo de 200 V a 30 kV, corrente de feixe de elétrons de 100 nA e magnificação máxima de 300.000 X
Software de análise de imagens SIS para medidas on line
Software de análise de imagens MLA - Mineral Liberation Analizer com controle remoto do microscópio e sistema de EDS para análises mineralógicas quantitativas dirigidas à indústria mineral.
Microscópio eletrônico de varredura Stereoscan S440
Marca Leo, com sistemas de microanálise INCA (EDS/WDS), marca Oxford, e de análises de imagens QWin Pro, marca Leica
Modo de operação: alto vácuo
Fonte: filamento de W
Detectores: SE, BSE, CL e de corrente de amostra
Sistema de microanálise integrado de EDS e WDS INCA, marca Oxford, possibilitando a realização de análises qualitativas e quantitativas, aquisição de imagens, análise multiponto e de feições, varredura por linhas e mapeamento de raios X. Detectores de EDS de Ge (<120 eV de resolução) e WDS 600i com 6 cristais analisadores
Estágio eucêntrico motorizado X-Y-Z com inclinação e rotação manuais; movimentação X-Y de 80 mm
Óptica eletrônica com operação no intervalo de 5 kV a 40 kV com resolução de imagem de 8 nm a 3 0kV com filamento de W
Software de análise de imagens QWin Pro, marca Leica, com controle remoto do MEV e realização de medidas on line