Questões de Concurso - FUNRIO - Exercícios com Gabarito
Questões de Concurso - FUNRIO com Gabarito. Exercícios com Perguntas e Respostas Resolvidas e Comentadas. Acesso Online Grátis!
1 Questão 532494 | Engenharia Civil, Engenheiro, Prefeitura de Maricá RJ, FUNRIO, 2007
2 Questão 621520 | Ciência da Computação, Memória, FUNRIO, 2012
Entre as opções a seguir, pode-se afirmar que NÃO são exemplos de memórias não voláteis
a) Memória Flash.
b) ROM programável por máscara.
d) DRAM e SRAM.
e) MRAM.
3 Questão 786643 | Engenharia Elétrica, Circuitos, FUNRIO, 2012
Para a realização de um teste em laboratório, é necessária a geração de um sinal de 900 MHz, modulado em frequência com uma potência de 13 dBm. Sabe-se que a saída do equipamento está casada com a impedância do circuito a ser testado que é de 50 Ohms. Medindo-se o nível da amplitude RMS sobre o circuito encontra-se um valor de:
a) 398 mV.
b) 1000 mV.
c) 1414 mV.
d) 707 mV.
e) 356 mV.
4 Questão 804911 | Legislação decretos, Decreto n 4544 2002 Regulamenta a tributação, Administrador, Suframa AM, FUNRIO, 2008
É considerada industrialização, de acordo com regulamento do imposto sobre produtos industrializados (Decreto 4.544/02),
a) a restauração de sacos usados, executada por processo rudimentar com emprego de máquinas de costura.
b) o preparo de produtos alimentares, não acondicionados em embalagem de apresentação, em cozinhas industriais destinados à venda direta a corporações, empresas e outras entidades, para consumo de seus funcionários ou empregados.
c) a moagem de café torrado, realizada por comerciante varejista como atividade principal.
d) o preparo de refrigerantes, à base de extrato concentrado, por meio de máquinas, automáticas ou não, em restaurantes, bares e estabelecimentos similares, para venda direta ao consumidor.
e) a confecção de vestuário, por encomenda direta do consumidor ou usuário, em oficina ou na residência do confeccionador.
5 Questão 818724 | Legislação Especial Federal, Lei 4320 1964, Contador, MJ, FUNRIO, 2009
O Balanço Patrimonial, de acordo com a Lei Federal n° 4.320, de 17 de março de 1964, demonstra
a) a diferença positiva entre a receita prevista e a efetiva arrecadação.
b) os créditos orçamentários e suplementares fixados para o exercício.
c) as obrigações, que mediata ou imediatamente, possam vir afetar o patrimônio.
d) o total das variações ativas resultantes da execução do orçamento.
e) como receita extra-orçamentária os créditos provenientes da dívida ativa.
6 Questão 791422 | Engenharia Química, FUNRIO, 2012
A busca constante pelo aumento na integração de dispositivos em sistemas integrados é caracterizada por uma acentuada redução nas dimensões verticais e horizontais. Essa redução das dimensões dos dispositivos faz melhorar seu desempenho. Dentre as reduções dimensionais, está a da espessura do óxido de porta do capacitor. Porém, essa redução gradual na espessura do óxido de porta não pode ser acompanhada de perdas de qualidade e/ou confiabilidade, de robustez dielétrica, e introdução de mecanismos parasitários. Assim, para manter ou mesmo aumentar a qualidade dos óxidos, apesar da redução na espessura, faz-se necessário um maior cuidado e um maior controle de contaminação metálica nas lâminas ou nas soluções, pois podem causar diretamente nas lâminas de SiO2:
a) elevação da aderência.
c) degradação.
d) elevação da rugosidade.
e) aumento da uniformidade.
7 Questão 787337 | Engenharia Elétrica, Eletrônica Analógica, FUNRIO, 2012
O emprego de técnicas de projeto voltadas ao teste (DFT) pode auxiliar tanto no teste de dispositivos isolados (teste de manufatura) como no teste de um sistema composto por vários dispositivos interconectados em uma placa de circuito impresso. Neste sentido, para minimizar ou mesmo evitar o emprego de "camas de pregos" para teste e diagnóstico de falhas em sistemas eletrônicos pode-se:
a) Desenvolver testes funcionais mais elaborados que permitam exercitar todas as funcionalidades do sistema e indicar a presença de falhas.
b) Empregar dispositivos que possuam a funcionalidade de "boundary scan" (JTAG – IEEE 1149.4).
c) Testar os dispositivos eletrônicos antes de utilizá-los.
d) Empregar somente dispositivos eletrônicos de boa procedência.
e) Empregar qualquer dispositivo eletrônico.
8 Questão 780793 | Engenharia de Produção e Egenharia Industrial, FUNRIO, 2012
O formato que NÃO é representativo de um arranjo físico de produto é o
a) formato de L.
b) formato de H.
c) formato de O.
d) formato de S.
e) formato de U.
9 Questão 787153 | Engenharia Elétrica, Eletrônica Analógica, FUNRIO, 2012
Na fabricação de circuitos integrados, algumas estruturas de teste podem ser usadas para avaliação do processo. Analise as sentenças a seguir: I) Para a correta avaliação do processo de fabricação de um CI, é sempre necessário realizar a caracterização de um componente eletrônico. II) É possível caracterizar partes de um processo de fabricação de CIs por meio de estruturas de teste visual. III) Estruturas de inspeção visual têm como objetivo a avaliação exclusivamente qualitativa. Estão corretas as sentenças:
10 Questão 630948 | Ciência da Computação, Analista em Tecnologia da Informação, MPOG, FUNRIO, Ensino Superior, 2009
Quais são os comandos SQL para modificar o banco de dados?
a) INSERT, UPDATE e DELETE.
b) INSERT, UPDATE e DROP.
c) CREATE, ALTER e DROP.
d) CREATE, UPDATE e DELETE.
e) INSERT, ALTER e DROP.
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