Fundamentos De Metrologia Científica E Industrial | 2ª Edição - Manole
Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial – 2ª EDIÇÃO - Impresso
De: R$ 112,00Por: R$ 67,20ou 6 X de R$ 11,20
André R. de Sousa,Armando Albertazzi G. Jr.
Este livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins. A abordagem intuitiva e o sequenciamento progressivo adotado tornam o livro adequado para pessoas autodidatas bem como acessível para cursos técnicos e de educação continuada. Esta nova edição acrescenta um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um novo anexo com conceitos de estatística apresentados de forma intuitiva. O objetivo é que esta obra possa conduzir o leitor à compreensão e aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.
Capítulo 1 – Medir
Capítulo 2 – Unidades de medida e sistema internacional
Capítulo 3 – Erro de medição
Capítulo 4 – Sistema de medição
Capítulo 5 – Calibração de sistemas de medição
Capítulo 6 – Resultados de medição diretas
Capítulo 7 – Resultados de medições indiretas
Capítulo 8 Propagação de incertezas através de módulos
Capítulo 9 – Análise de incerteza através de simulação numérica
Capítulo 10 – Controle de qualidade
Capítulo 11 – Seleção de sistemas de medição
Capítulo 12 – Confiabilidade de processos de medição na indústria
André R. de Sousa: Professor titular do departamento de Mecânica do Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia de Santa Catarina (IFSC) e membro permanente do Programa de Pós-Graduação em Mecatrônica. Leciona metrologia e engenharia de precisão em cursos técnicos, de graduação, de pós-graduação, e em cursos de formação continuada. Atua como pesquisador e consultor no campo da metrologia com foco na medição por coordenadas e GD&T.
Armando Albertazzi G. Jr.: É professor titular do departamento de Engenharia Mecânica da Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC) e membro permanente do Programa de Pós-Graduação em Engenharia Mecânica. Leciona metrologia e estatística em cursos de graduação e pós-graduação. É pesquisador atuante no campo da metrologia óptica, desenvolvendo e aplicando sistemas de medição que usam a luz para medir.
Segunda edição revisada e atualizada de acordo com as novidades mais recentes no campo da metrologia.