Was ist ein Burn In Test?
What is a Burn In Test?
Der Burn In Test hat sich in der Halbleiter Industrie etabliert, um Baugruppen, wie beispielsweise ICs, auf ihre voraussichtliche Lebensdauer zu prüfen. Diese Art der Validierung findet nicht nur in der Halbleiterindustrie, sondern auch auf Elektronik Ebene Anwendung. Laut dem Wissenschaftler Arrhenius, gibt es einen Zusammenhang bzw. eine Formel, nach der die kalendarische Alterung von der Temperatur abhängt. Grob gesagt: Je größer die Temperatur desto schneller die Alterung.   Bei Betrieb eines Prüflings bei hoher Temperatur, kann also nach verkürzter Zeit bereits auf eine Lebensdauer unter Normalbedingungen geschlossen werden. Das ist der Sinn und Zweck des Burn-In-Test. Es liegt im Interesse des Entwicklers, die Lebensdauer frühstmöglich im Entwicklungszyklus beurteilen zu können. Beliebig hoch kann die Temperatur eines Alterungstests allerdings auch nicht angesetzt werden, da ab gewissen Temperaturen je nach Prüflings andere zerstörerische Effekte eintreten.
The Burn In Test has established itself in the semiconductor industry to test assemblies, such as ICs, for their expected lifetime. This type of validation is not only used in the semiconductor industry, but also at the electronics industry level. According to the scientist Arrhenius, there is a correlation or rather a formula, according to which the calendrical aging depends on the temperature. In rough terms, the higher the temperature, the faster the aging.   If a test sample is operated at a high temperature, it is therefore possible to conclude after a shorter period of time what the service life will be under normal conditions. This is the purpose of the burn-in test. It is in the interest of the developer to be able to assess the service life as early as possible in the development cycle. However, the temperature of an aging test cannot be set arbitrarily high, as other destructive effects occur above certain temperatures depending on the test sample.