Merhaba Teknoloji Haberleri Tekno Bilim ailesi , bugün sizlere Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) hakkında bilgiler vereceğiz.
Nobel Ödülü almış olan Taramalı Prob Mikroskobunun piyasaya çıkmasının ardından Binnig, Gerber ve Quate adlı üç bilim insanı tarafından üretilen ve AFM adıyla bilinen Atomik Kuvvet Mikroskobu; icadından hemen sonra tarama probu alanı, nanometre ölçeğinde topografyayı görüntüleyebilmek için atomlar arası kuvvetleri kullanır. Moleküllerin arasındaki kuvvetleri ölçme ve bir yandan atomları gözlemleme yeteneği bilim insanlarını oldukça cezbeden bir keşif.
Topografik görüntüleme, araştırmacıların aradığı cevapları tam olarak sağlamaz ve yüzeyin yapısı genelde malzeme özellikleriyle ilgili değildir. Bu sebepten ötürü, yüzeylerin yapısıyla ilgili kesin veriler elde etmek için bazı gelişmiş görüntüleme modelleri daha geliştirilmiştir. İşte AFM de tam bu noktada keşfedilen bir araç.
Atomik Araştırmalarda Eksik Kalan STM Mikroskobu
Taramalı Prob Mikroskobu olarak da bilinen bu ürün, ilk kez 1981’de geliştirildi ve kullanılmaya başlandı. Gerd Binnig ve Heinrich Rohrer tarafından geliştirilen mikroskop, 1986 yılında Nobel Fizik Ödülü almalarını sağladı.
AFM Nedir? STM’den Farkı
AFM Mikroskobu, STM’in çalışma prensibine benzer şekilde kullanılır ve yüzey görüntüleme için keskin raster ucuyla tarama yapılır. Bahsettiğimiz üzere Tarama ve Tünelleme (STM) Mikroskobunun aksine, Atomik Kuvvet Mikroskobunun iletken bir örneğe ihtiyaç duymaz. STM’in kullandığı kuantum mekaniğini kullanmak yerine, uç-örnek etkileşimini haritalar ve bunu yaparken atomik kuvvetlerden faydalanır.