Optik Profilometre - Optical ProfilometerMarka: Zeiss Model: AXIO CSM 700
Profilometre, yüzeyden topografik verileri çıkarmak için kullanılan bir tekniktir. Bu tek bir nokta, çizgi taraması veya üç boyutlu bir tarama olabilir. Optik profilometrinin amacı malzemenin yüzey morfolojisini, yüksekliğini ve yüzey pürüzlülüğünü hassas bir şekilde belirlemektir. Stylus profilometrenin aksine, optik profilometre ile işlem yaparken yüzeyle herhangi bir temas olmadığından numune üzerinde aşınma meydana gelmez.
Optik profilometre malzeme teknolojisinin kağıt, plastik, epoksi, metal, cam ve boya başta olmak üzere birçok alanda ölçüm yapmak için kullanılır. Taşlama ve cilalamanın kümülatif etkileri gibi malzeme işlemenin parmak izlerinin analiz edilmesinde oldukça kullanışlı bir yöntemdir.
Merkezimizde bulunan optik profilometre 0.1 um yanal yönde, 0.02 um yükseklik hassasiyetinde topografik ölçüm gerçekleştirilebilir.