Akıllı telefon tarihindeki en geniş çaplı ürün toplatma kararına imza atan Samsung, bugün nihayet Note 7 krizinin ardındaki sebepleri açıkladı. Toplatılan ilk ürünler ile ikinci ürünlerdeki patlamaların iki farklı sorundan kaynaklandığını tespit eden firma, açıklamasında bunların tüm detaylarını ve aldığı önlemleri basına duyurdu.
200 bin telefon ve 30 bin ek pil ile gerçek kullanım senaryoları taklit edilerek 700 araştırmacı tarafından yürütülen çalışmalar iki farklı sorunu gün yüzüne çıkarmış. İlk Note 7'lerde pil paketinin tasarımı sebebiyle bazı bölgelerde negatif uçların bükülmesi kısa devreye yol açmış. İkinci dağıtımda ise pil üreticisinin oluşan büyük talebi karşılamak için aceleci davranarak katmanların kaynaklanmasındaki sıkıntıları tespit edemediği ve bunun da kısa devreden patlamaya kadar varan problemler doğurduğu belirtiliyor.
Her iki sorunu da X-ray tarama ve benzeri ek güvenlik kontrolleriyle kolayca saptayabileceğini itiraf eden Samsung, bu acı tecrübeden sonra şirket içerisinde yürüttüğü pil testlerinde 8 aşamalı yeni bir sisteme geçiş yaptığını ilan etti. Endüstri standartlarının ötesinde olduğu iddia edilen yeni testler, 2017 model tüm Samsung cihazlarını kapsayacak. Bu sayede gelecekte Note 7 benzeri pil problemlerinin minimuma indirilmesi sağlanacak.