Irakurri pasarte hau, eta erantzun ondoren galdera pasartearen hizkuntza berean:  Pasaera: Indar atomikoaren mikroskopia (AFM) edo indar eskanerraren mikroskopia (SFM) oso bereizmen handiko eskanerraren zunda-mikroskopia (SPM) mota bat da, nanometro baten zatikien ordenako bereizmen frogatuarekin, difrakzio optikoaren muga baino 1000 aldiz hobea.  Galdera: Zer da zehazki AFM?
bereizmen handiko zunda-mikroskopia bat,