Irakurri pasarte hau, eta erantzun ondoren galdera pasartearen hizkuntza berean:  Pasabidea: AFM-ak punta zorrotza duen kantilebero bat du (zunda), laginaren gainazala eskaneatzeko erabiltzen dena. Kantela silikona edo silikona nitruroa izan ohi da, eta muturreko kurbaduraren erradioa nanometroen ordenazkoa da. Muturra laginaren gainazalaren hurbil jartzen denean, muturraren eta laginaren arteko indarrek kantileberaren desbideratzea eragiten dute Hooken legearen arabera. Egoeraren arabera, AFM-an neurtzen diren indarrak kontaktu-indar mekanikoa, van der Waals-en indarrak, indar kapilarrak, lotura kimikoa, indar elektrostatikoak, indar magnetikoak (ikusi indar magnetikoaren mikroskopioa, MFM), Casimir-indarrak, solbazio-indarrak, etab. Indarrarekin batera, kantitate osagarriak aldi berean neur daitezke zunda espezializatuen bidez (ikusi eskanerra-mikroskopia termikoa, eskanerra-mikroskopia Joule-ren hedapen-mikroskopia, fototermo-mikroskopia, etab.).  Galdera: Zerez egina izaten da palanka?
silizioa edo silizio nitruroa