Beheko pasarteari erreferentzia egin eta ondoren galdera horri erantzun pasartearen hizkuntza berean: Pasaera: Indar atomikoaren mikroskopia (AFM) edo indar eskanerraren mikroskopia (SFM) oso bereizmen handiko eskanerraren zunda-mikroskopia (SPM) mota bat da, nanometro baten zatikien ordena duen bereizmen frogatuarekin, difrakzio optikoaren muga baino 1000 aldiz hobea. Galdera: Zer da AFM?
bereizmen handiko zunda-mikroskopia bat,