Ondoko pasarteari erreferentzia egin eta ondoren galdera horri erantzun pasartearen hizkuntza berean: Pasarte: AFM-a punta zorrotz bat duen kantilebero bat da (zunda) espezimenaren gainazala eskaneatzeko erabiltzen dena. Kantileberoa, normalean, silizio edo silizio nitruroa da, punta kurbaduraren erradioa nanometroen ordena duena. Kantileberoa laginaren gainazalera hurbiltzen denean, punta eta laginaren arteko indarrek kantileberoaren desbideratzea eragiten dute Hooke-ren legearen arabera. Egoeraren arabera, AFM-an neurtzen diren indarrek harremaneko indar mekanikoa, van der Waals indarrak, kapilari indarrak, lotura kimiko indarrak, indar elektrostatikoak, Casimir indar magnetikoak (ikus mikroskopio magnetikoa, MFM), indarrak, solbazio indarrak, etab. Indar kantitateak aldi berean neur daitezke, eskaner proben erabilpen espezializatuaren bidez (ikuspen mikroskop
silizioa edo silizio nitruroa