Riferirsi al passaggio seguente e rispondere alla domanda successiva nella stessa lingua del passaggio:  Passaggio: l'AFM è costituito da un cantilever con una punta affilata (sonda) alla sua estremità che viene utilizzata per scansionare la superficie del campione. Il cantilever è tipicamente in silicio o nitruro di silicio con un raggio di curvatura della punta dell'ordine dei nanometri. Quando la punta viene portata in prossimità di una superficie di campione, le forze tra la punta e il campione portano a una deviazione del cantilever secondo la legge di Hooke. A seconda della situazione, le forze che vengono misurate in AFM includono la forza di contatto meccanica, le forze di van der Waals, le forze capillari, il legame chimico, le forze elettrostatiche, le forze magnetiche (vedi microscopio a forza magnetica, MFM), le forze di Casimir, le forze di solvatazione, ecc. Insieme alla forza, ulteriori quantità possono essere misurate contemporaneamente attraverso l'uso di tipi specializzati di sonde (vedi microscopia a scansione termica, microscopia a espansione Joule a scansione, microscopia fototermica, ecc.).  Domanda: Di cosa è fatto il cantilever?
di silicio o nitruro di silicio