Quando la punta viene portata in prossimità di una superficie di campione, le forze tra la punta e il campione portano a una deflessione della cantilever secondo la legge di Hooke. A seconda della situazione, le forze che vengono misurate in AFM includono forza meccanica di contatto, forze di van der Waals, forze capillari, forze di legame chimico, forze elettrostatiche, forze magnetiche (vedi forza magnetica microscopio, MFM), forze di solvatazione, ecc. Le quantità di forza possono essere misurate contemporaneamente attraverso l'uso di ulteriori tipi di sonde di scansione termiche (vedi microscopio di espansione fototermica, microscopio di espansione fototermica, ecc.).
di silicio o nitruro di silicio