AFM係由一條帶有尖端 (探測器) 於一端嘅橫軸組成,用嚟掃描試樣表面.橫軸通常係<unk>或<unk>化<unk>,尖端嘅曲率半徑大約係納米.當尖端靠近試樣表面時,尖端同試樣之間嘅力會根據胡克定律導致橫軸嘅偏斜.根據情況,AFM測量嘅力包括機械力,范德瓦爾斯力,毛細血管力,化學結合力,靜電力,磁力 (見磁力顯微鏡,MFM),力,溶解力,等等.隨著力嘅量,可以同時通過使用特殊型嘅掃描探測器 (見光譜顯微鏡,光譜顯微鏡,熱擴張顯微鏡等) 測量.問題:光譜顯微鏡通常由何物體制成?
<unk>或<unk>化<unk>